In der Halbleiter-Industrie, wie z.B. bei NXP, ist man bestrebt, sehr viel Aufwand in das Testen zu investieren, um hoch-qualitative ICs herzustellen und somit hohe Folgekosten für die Ausbesserung zu vermeiden. Damit Testen auch zu einer regulierbaren Aktivität wird, ist es notwendig dieses in einen Prozess zu kleiden.
In diesem Vortrag/Workshop wird erläutert, wie NXP – Business Line Identification (BL ID) laut TMMi Maturity Level 2 einen Test-Prozess definiert hat. Es werden die Test-Policy, Test-Strategie und Test-Plan Dokumente beschrieben und die ersten Erfolge aufgelistet.
Lecturers: Dipl.-Ing. Egon Valentini
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